深耕 IC 现货市场 多年，我们是您值得信赖的伙伴。
我们提供 无最低订购量 的灵活选择，最快可实现 当天发货。欢迎联系我们获取 IC 报价！
四探针电阻仪探头SDKR～25：高精度材料电阻率测量的核心组件
AEMC现货 > 产品资料 > 探头 > 四探针电阻仪探头SDKR～25：高精度材料电阻率测量的核心组件

四探针电阻仪探头SDKR～25：高精度材料电阻率测量的核心组件

四探针电阻仪探头SDKR～25：技术原理与应用优势

四探针电阻仪探头SDKR～25是专为半导体、导电陶瓷及新型功能材料电阻率测试设计的精密测量工具。该探头采用四端子法（Four-Point Probe）原理，有效消除接触电阻对测量结果的影响，确保数据的高准确性和可重复性。

1. 工作原理详解

四探针法通过两个外侧探针注入恒定电流，两个内侧探针测量电压降。由于电流路径与电压测量路径分离，避免了引线电阻和接触电阻带来的误差，特别适用于低电阻率材料的精确测量。

2. SDKR～25探头的技术参数

  • 探针间距：1.0 mm～2.5 mm（可定制）
  • 适用材料：硅片、碳纤维、氧化物半导体、薄膜材料等
  • 测量范围：10⁻⁶ Ω·cm 至 10⁴ Ω·cm
  • 耐温性能：最高可达400℃（选配高温型）
  • 探针材质：铱金/钨合金，具备优异耐磨性和化学稳定性

3. 应用场景广泛

在半导体制造、光伏产业、新材料研发等领域中，SDKR～25探头被广泛用于：

  • 晶圆电阻率分布检测
  • 薄膜材料均匀性评估
  • 掺杂浓度梯度分析
  • 可靠性测试中的长期稳定性监测

4. 与四探针电阻仪的协同工作

SDKR～25探头可无缝对接主流四探针电阻仪系统，支持自动校准、温度补偿和数据实时上传，实现从测量到分析的一体化流程。配合专用软件，用户可生成电阻率地图、进行统计分析，极大提升科研与生产效率。

NEW